Europäisches Patentübereinkommen
 (17.05.2023)

Verlag: C.H.Beck

ISBN: 978-3-406-76195-9

Erscheinungsdatum: 17.05.2023

Größe: 160 x 240 (B/H)

Gewicht: 1803

Bindung: Leinen (ohne Verstärkung)

Reihe: Beck'sche Kurz-Kommentare (4a)

Sprache: deutsch

Auflage: 4

Umfang: 2142 Seiten

MwSt: 7 %

Zum Werk Der Kommentar knüpft an die Tradition des "Benkard" zum PatG an und erläutert und vertieft die eigenständige Entwicklung der Rechtsprechung der Beschwerdekammern des EPA und dessen Prüfungspraxis. Während sich das Parallelwerk zum PatG vornehmlich an der Rechtsprechung des X. Senats des BGH orientiert, legt der vorliegende Kommentar die Amtspraxis der Prüfungs- und Einspruchsabteilungen dar und erklärt die eigenständige Entwicklung der Rechtsprechung der Beschwerdekammern. Vorteile auf einen BlickErläuterung durch erfahrene Praktikerinnen und Praktikergründliche Darstellung nach deutschem KommentarstandardMitbehandlung der relevanten Nebenvorschriften Zur Neuauflage Die Neuauflage berücksichtigt neben einer Vielzahl aktueller Entscheidungen insbesondere die neuen Richtlinien für die Prüfung im Europäischen Patentamt sowie Fragen zum Europäischen Patent mit einheitlicher Wirkung (EPeW) und dem Einheitlichen Patentgericht (EPG). Zielgruppe Für Rechtsanwaltschaft, Patentanwaltschaft und Patentanwaltskandidatinnen und Patentanwaltskanditen, patentamtliche Prüferinnen und Prüfer, Richterschaft, Erfinderinnen und Erfinder, Rechts- und Patentabteilungen von Wirtschaftsunternehmen.